USB端子4KV接触放电测试芯片损坏问题分析 问题现象描述： EMC测试人员反馈对USB端子的金属外壳进行4KV接触放电后系统无法开机，分析确认芯片已经损坏，造成系统无法正常开机。实验室模拟对双层USB端子进行4KV接触放电则不会出现系统无法开机的现象。 与测试工程师进行深入沟通确认，客户对双层USB端子的中...
2025-02-18
无线通信的发展 随着科技的不断进步，无线通信已经成为我们生活中不可或缺的一部分。从最早的2G，到如今的5G，无线通信技术的不断创新已经为我们带来了更快速和稳定的连接。然而，无线通信设备的调试过程却是一个略显复杂的任务，因此掌握一些无线通信调试技术对于工程师们来说至关重要。emc网页版登录易倍体育 信...
2024-01-27欢迎关注，了解更多资讯
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