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USB端子4KV接触放电测试芯片损坏问题分析 问题现象描述: EMC测试人员反馈对USB端子的金属外壳进行4KV接触放电后系统无法开机,分析确认芯片已经损坏,造成系统无法正常开机。实验室模拟对双层USB端子进行4KV接触放电则不会出现系统无法开机的现象。 与测试工程师进行深入沟通确认,客户对双层USB端子的中...
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